产品详情
简单介绍：
Otsuka 显微分光厚膜仪可以用于测量目标膜的**反射率，高精度测量膜厚和光学常数。广泛应用于医药、食品、化工、半导体、材料科学以及电子行业。
显微分光厚膜仪产品的主要特点：厚膜测量的主要功能集中在显微厚膜嵌入头；利用显微分光实现高精度**反射率测量，分析多层薄膜厚度和光学常数（n:折射率，k:消光系数）；单点对焦测量时间小于1s；显微分光厚膜仪显微下具有较宽的测定波长范围（紫外～近红外）；初学者也可以轻松的利用解析软件进行光学常数解析；搭载macro功能，可以自定义各种测量情况。
详情介绍：
- 显微分光厚膜仪性能参数：
| 阶 段 | OPTM-A1 | OPTM-A1 | OPTM-A1 |
| 波长范围 | 230nm～800nm | 360nm～1100nm | 900nm～1600nm |
| 膜厚范围 | 1nm～35μm | 7nm～49μm | 16nm～92μm |
| 测定时间 | 1秒/点 | ||
| 光径大小 | 10μm（可小至约5μm） | ||
| 检 测 器 | CCD | CCD | InGaAs |
| 光 源 | 氘灯+卤素灯 | 氘灯+卤素灯 | 卤素灯 |
| 电源规格 | AC100V±10V 500VA (自动样品台规格） | ||
| 尺 寸 | 556(W)×566(D)×618(H)（自动样品台主体规格） | ||
| 重 量 | 约55kg（自动样品台主体规格） | ||
- 显微分光厚膜仪应用特点：
1.反射对物镜片实现透明基板的高精度测定
如果是透明基板，因里面的反射光而无法正确测出膜厚。通过反射対物镜片，可物理性的消除里面反射。即使是透明基板也可测出高精度的膜厚。特别是对带有光学非均质的基板效果很好。
2.显微分光厚膜仪在微小区域测定所瞄定的模式或部位
在软件上通过同时显示样品画面和测定光采取部位，可很好的确认到测定点。特别是对有微小点（直径≥3μm）的形状的样品。
3.显微分光厚膜仪在紫外区域实现极薄膜的测定
在光干涉法中，膜越薄反射率的变化就越小。在紫外区域，由于膜厚反射率的变化相比可视区域要大，如果厚度为1nm左右的极薄膜，在紫外区域的测定效果很好。
4.显微分光厚膜仪在近红外区域实现带色样品的测定
在可视区域，即使时吸收较强的彩色膜等带色的样品，在近红外区域几乎会变得很透明，所以在近红外区域的测定效果很好。
5.自动XY平台实现多点自动检测
OPTM标配XY自动平台，仅需输入坐标即可自动多点检测大面积样品， 实时获取厚度分布图。平台设有防误触光栏，避**测过程误触。平台尺寸200mm×200mm，可以检测12寸晶圆。
6.显微分光厚膜仪的操作便捷，检测时间短
QC模式—点击即检测；
R&D模式—非标准样品检测时间小于1s。
